| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 品牌：布鲁克 |
| 型号：TI 990 |
纳米压痕仪Hysitron TI 990 TriboIndenter是布鲁克***的 TriboIndenter 平台的全面改进，其测量和分析过程的各个方面都采用了旨在消除纳米压痕仪系统常见限制的更新技术。因此，该系统具有更多的可用测量模式 ，并在广泛的实验室环境中提供高精度测量。
纳米压痕仪Hysitron TI 990 TriboIndenter在控制和测试带宽、测试灵活性、适用性、测量可靠性和系统模块化方面取得了***进步，从而实现了比以前更多、更好的研究。
TI 990 具有增强的测量功能、更高的样品灵活性、更简单的系统设置和更简化的操作，是适用于各种应用的***表征解决方案。
无论您需要提高聚合物薄膜的精度、提高组合材料科学的测试带宽，还是需要对全 300 毫米半导体晶圆进行多参数测量分析，TI 990 都能满足您的各种测试需求。
用于原位 SPM 成像的双压电扫描头
高分辨率、彩色光学显微镜
***的低噪声 2D 电容式传感器
计量级花岗岩框架确保测试稳定性
集成主动减振系统
Performech III 控制器
减振底座的抗噪能力提高了 50 倍
多层环境隔离罩
俯视样品台成像
使用 XPM II 超高速纳米压痕进行性能成像
动态纳米压痕
带有可定制面板的模块化外壳
通用样品夹具
高精度电动/自动化平台，可测试面积增加 60%
