| 加工定制：否 | 种类：元素半导体 | 品牌：赛默飞 |
| 型号： iG50 | 特性：半导体材料表征自动化量测设备 |
Nicolet iG50
Nicolet iG50自动化晶圆分析系统集Nicolet FTIR核心光谱技术优势，专为半导体晶圆片的自动化分析而设计。产品基于功能强大的Nicolet iG50工业化光谱分析平台，能***的满足Wafer生产过程质量控制、产品研发的测试应用需求。
赛默飞公司以***FT-IR为核心，将量测技术和EFEM集成出***“Nicolet iG50 Series”半导体材料表征自动化量测设备，满足用户量测需求。使用 Thermo Scientific Nicolet iG50 Wafer Analytical System 晶圆量测设备，您可大幅度地提高在线量测效率并快速采集高品质光谱数据。直观的用户界面使任意技术水平的用户可快速进行产线的量测，SECS/GEM 标准协议带能为用户及时传递设备的空闲、采集或警报状态。光源、激光器和干涉仪享有长年质保，让您未来使用放心无忧。
